Kdesign薄膜测厚仪产品概述：

Kdesign薄膜测厚仪KDvision-LAB

随时准备使用，包括触摸屏电脑用于操作、数据库和网络集成。
易于操作和操作，在实验室和生产中使用。
所有非导电塑料材料的非接触电容测量。
采用集成高精度千分尺自动校准。
自动启动/停止检测塑料薄膜样本，各种薄膜切片。
易于配置的自动过滤器(褶皱检测)。
数据导出工具。
电容式测量，测量点数可调。
显示原始数据和过滤数据(%,μm 2σ-3σ)。
采用集成测微计按ISO 4593进行机械测量。
不需要导向滚轮组件。

产品特征Special Features:

Ready to use, incl. Touch-Panel-PC for operating, data base and network integration；

Easy handling and operation；

Non-contact capacitive measurement for all non-conductive plastic materials；

Auto calibration by integrated high-precision micrometer；

Auto start/stop detection of film sample, multi-cut films possible；

Easy configurable auto filters (wrinkle detection)；

Data export tools；

Capacitive measuring with adjustable number of points；

Display of raw data and filtered data (%, μm, 2-Sigma, 3-Sigma)；

Mechanical measuring according to ISO 4593 by integrated micrometer；

No need of guiding roller assemblies；

技术参数：

薄膜样品宽度：75-95mm
薄膜样品长度：可达25m
厚度测量范围：5微米到500微米
测量速度：可达60mm/S （连续电容模式）
测量间隔：50ms,
分辨率：0.1微米
精度：0.2微米机械/1%电容

薄膜电容式测厚仪采用电容传感器精度高、能量损耗小、无接触磨损等特点，制作了符合薄膜厚度测量要求的传感器探头，并在此基础上设计了电容传感器信号检测电路。

1、定点测量和扫描测量：

定点测量的位置可在扫描范围内任意设置。

扫描测量的范围可根据被测材料的宽度来确定。

2、自动完成定时标定或手动标定，定时标定的时间间隔可设置。

3、位置补偿标定。

4、系统故障的自动检测、显示和处理。