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Kdesign薄膜测厚仪

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所属分类:测厚仪
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Kdesign薄膜测厚仪KDvision-LAB采用优质电容传感器,测厚分辨率高达5微米,确保了试验结果的稳定性与准确性。具有电脑通信接口,通过选购软件实现数据的存储、查询、打印;软件功能强大,可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计,试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输。

Kdesign薄膜测厚仪产品概述:

Kdesign薄膜测厚仪KDvision-LAB

随时准备使用,包括触摸屏电脑用于操作、数据库和网络集成。
易于操作和操作,在实验室和生产中使用

所有非导电塑料材料的非接触电容测量。
采用集成高精度千分尺自动校准
自动启动/停止检测塑料薄膜样本,各种薄膜切片
易于配置的自动过滤器(褶皱检测)。
数据导出工具
电容式测量,测量点数可调。
显示原始数据和过滤数据(%,μm 2σ-3σ)。
采用集成测微计按ISO 4593进行机械测量
不需要导向滚轮组件。

<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>Kdesign薄膜测厚仪</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

产品特征Special Features:

Ready to use, incl. Touch-Panel-PC for operating, data base and network integration;

Easy handling and operation;

Non-contact capacitive measurement for all non-conductive plastic materials;

Auto calibration by integrated high-precision micrometer;

Auto start/stop detection of film sample, multi-cut films possible;

Easy configurable auto filters (wrinkle detection);

Data export tools;

Capacitive measuring with adjustable number of points;

Display of raw data and filtered data (%, μm, 2-Sigma, 3-Sigma);

Mechanical measuring according to ISO 4593 by integrated micrometer;

No need of guiding roller assemblies;

数据显示

技术参数:

薄膜样品宽度:75-95mm
薄膜样品长度:可达25m
厚度测量范围:5微米到500微米
测量速度:可达60mm/S (连续电容模式)
测量间隔:50ms,
分辨率:0.1微米
精度:0.2微米机械/1%电容

薄膜电容式测厚仪采用电容传感器精度高、能量损耗小、无接触磨损等特点,制作了符合薄膜厚度测量要求的传感器探头,并在此基础上设计了电容传感器信号检测电路。

1、定点测量和扫描测量:

定点测量的位置可在扫描范围内任意设置。

扫描测量的范围可根据被测材料的宽度来确定。

2、自动完成定时标定或手动标定,定时标定的时间间隔可设置。

3、位置补偿标定。

4、系统故障的自动检测、显示和处理。


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