Kdesign薄膜测厚仪KDvision-LAB
随时准备使用,包括触摸屏电脑用于操作、数据库和网络集成。
易于操作和操作,在实验室和生产中使用。
所有非导电塑料材料的非接触电容测量。
采用集成高精度千分尺自动校准。
自动启动/停止检测塑料薄膜样本,各种薄膜切片。
易于配置的自动过滤器(褶皱检测)。
数据导出工具。
电容式测量,测量点数可调。
显示原始数据和过滤数据(%,μm 2σ-3σ)。
采用集成测微计按ISO 4593进行机械测量。
不需要导向滚轮组件。
产品特征Special Features:
Ready to use, incl. Touch-Panel-PC for operating, data base and network integration;
Easy handling and operation;
Non-contact capacitive measurement for all non-conductive plastic materials;
Auto calibration by integrated high-precision micrometer;
Auto start/stop detection of film sample, multi-cut films possible;
Easy configurable auto filters (wrinkle detection);
Data export tools;
Capacitive measuring with adjustable number of points;
Display of raw data and filtered data (%, μm, 2-Sigma, 3-Sigma);
Mechanical measuring according to ISO 4593 by integrated micrometer;
No need of guiding roller assemblies;
技术参数:
薄膜样品宽度:75-95mm
薄膜样品长度:可达25m
厚度测量范围:5微米到500微米
测量速度:可达60mm/S (连续电容模式)
测量间隔:50ms,
分辨率:0.1微米
精度:0.2微米机械/1%电容
薄膜电容式测厚仪采用电容传感器精度高、能量损耗小、无接触磨损等特点,制作了符合薄膜厚度测量要求的传感器探头,并在此基础上设计了电容传感器信号检测电路。
1、定点测量和扫描测量:
定点测量的位置可在扫描范围内任意设置。
扫描测量的范围可根据被测材料的宽度来确定。
2、自动完成定时标定或手动标定,定时标定的时间间隔可设置。
3、位置补偿标定。
4、系统故障的自动检测、显示和处理。
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